资产编号 20146251

仪器名称
[奉七726]半导体参数分析仪  状态【完好
英文名称
规格/型号 */4200-SCS 
生产厂商 美国泰克公司
国别 中国
所属单位 材料科学与工程学院>>奉贤实验七楼726 放置地点 奉贤实验七楼726(A19)
负责人 杨晓华 邮箱:暂无
使用日期 2014/3/1 电子邮箱
性能指标 单探头(4个),电容双接头(2个),最大电流5A,输出电压不超过42V
主要应用 半导体器件性能测试,主要包括二极管特性测量、三极管信号放大测量、电阻测量、电容器电容测量、晶体管以及纳米器件的电性能表征。
样品要求
仪器说明
学习资料